纳米荧光分析法及其应用-荧光纳米微球是什么

简略信息一览：

• 1、X射线荧光光谱分析
• 2、X射线荧光光谱分析的应用
• 3、荧光量子产率的计算方法

X射线荧光光谱分析

1、EDX指的是能量散射型X射线荧光光谱仪，也有人叫EDXRF。EDS是能谱仪。XRF是比EDS更准确的定量。

2、年由H.费里德曼（H.Friedmann）和L.S.伯克斯（L.S.Birks）制成第一台波长色散X射线荧光分析仪，至60年代本法在分析领域的地位得以确立。

3、由方程（4-8）式，假定d是无限厚度，于是方程可写成 放射性勘探方法 由此可见上式中μm（Ex）+μm（i）表示在厚样品情况下非线性影响是始终存在的。因此，有人认为不作任何校正的厚样品X射线谱分析只能是近似或半定量的。

4、真空紫外线的这些测量有相当大的实验困难，因此通常使用辅助单色仪。在各种入射角的情况下分别测量衍射光栅的效率。在许多实验步骤中已成功地避免了校准上的困难。

5、X荧光光谱仪（XRF）由激发源（X射线管）和探测系统构成。X射线管产生入射X射线（一次X射线），激发被测样品。

X射线荧光光谱分析的应用

这种作用是X射线应用于***的基础，利用这种荧光作用可制成荧光屏，用作***时观察X射线通过人体组织的影像，也可制成增感屏，用作摄影时增强胶片的感光量。（4）热作用。

它只包含特征X射线，没有连续X射线。分别以原级、一级、二级X射线激发，可产生一级、二级、***X射线荧光。

X射线荧光光谱法进行定量分析的依据是元素的荧光X射线强度I1与试样中该元素的含量Wi成正比：Ii=IsWi （2）式中，Is为Wi=100%时，该元素的荧光X射线的强度。

荧光量子产率的计算方法

1、Yu = （Ys*Fu*As）/（Fs*Au）Yu、Ys —待测物质和参比标准物质的荧光量子产率；Fu、Fs —为待测物质和参比物质的积分荧光强度；Au、As —为待测物质和参比物质在该激发波长的入射光的吸光度（A=εbc）。

2、荧光量子产率（fluorescent quantum yield ）又称荧光量子效率，符号Yf。是指激发态分子中通过发射荧光而回到基态的分子占全部激发态分子的分数。

3、可以用荧光的强度除以激发光的强度，再乘以百分之百。

4、量子产率的计算公式是量子产率=（生成产物的分子数）/（吸收的量子数）。量子产率的定义 量子产率是光化学反应的光子与吸收总光子数之比。符号为ψ，Y。积分量子产率为Ф进行光化学反应的光子数/吸收光子数。

5、量子产率分为外量子产率和内量子产率。一般提到的都是简单的外量子产率。即：从荧光分子内发出的光子数与吸收的总光子数的比值。

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